Мы собираем встроенное приложение C/С++, которое развертывается в экранированном устройстве в среде, облученной ионизирующим излучением . Мы используем GCC и кросс-компиляцию для ARM. При развертывании наше приложение генерирует некоторые ошибочные данные и чаще всего падает, что нам хотелось бы. Аппаратное обеспечение предназначено для этой среды, и наше приложение работает на этой платформе в течение нескольких лет.
Могут ли быть внесены изменения в наш код или улучшения времени компиляции, которые могут быть сделаны для идентификации/исправления мягких ошибок и повреждения памяти, вызванного разоблачение одного события? Были ли у каких-либо других разработчиков успехи в снижении вредных последствий мягких ошибок в долгосрочном приложении?